本試驗用于確定工作或貯存的室內(nèi)環(huán)境對電工電子產(chǎn)品元件、設(shè)備與材料，特別是接觸件與連接件的腐蝕影響，它們也可以分別組裝進一個分系統(tǒng)或裝配成為一個完整的設(shè)備進行考核。

      本標準提供的試驗方法所給出的信息，能在相互比較耐腐蝕性的基礎(chǔ)上，幫助進行材料、制造工藝和元件設(shè)計的選擇。選擇試驗方法及其持續(xù)時間的指南見附錄C。

      設(shè)備的設(shè)計與結(jié)構(gòu)細節(jié)是可選擇的，但每個試驗方法規(guī)定的條件應在其整個工作空間中得到滿足，且應符合以下要求：

      ——水滴或懸浮顆粒不應送入樣品室；

      ——所用的空氣和水應該足夠潔凈，以免影響試驗效果；

      ——試驗氣體通過樣品室時，應確保工作空間內(nèi)試驗條件的一致；

      ——氣體分析用的氣體采樣點應在樣品室的工作空間內(nèi)；

      ——所排放的氣體應按照相關(guān)的法律條款進行處理。

      相關(guān)產(chǎn)品規(guī)范應明確試驗期間試驗樣品所處的狀態(tài)，如連接件是連接的還是不連接的；開關(guān)的接觸點是打開的還是閉合的，是否處于工作或電負載狀態(tài)。

      散熱的試驗樣品處于工作或電負載狀態(tài)的時間，應使工作空間的溫度和相對濕度保持在規(guī)定的容差內(nèi)。當試驗樣品送入試驗箱內(nèi)時，試驗樣品和試驗箱所處的狀態(tài)不應該使試驗樣品表面產(chǎn)生冷凝現(xiàn)象。